El futuro de los trabajos en almacenes y fábricas ha llegado. El X-AR del MIT utiliza realidad aumentada para localizar objetos etiquetados con RFID, lo que reduce errores y aumenta la eficiencia.
El Instituto de Tecnología de Massachusetts (MIT) ha desarrollado el X-AR, un sistema de realidad aumentada que utiliza señales de radiofrecuencia (RF) para localizar objetos etiquetados con RFID (La identificación por radiofrecuencia) que se encuentran dentro de cajas o debajo de pilas. Los investigadores del MIT utilizaron una antena en forma de bucle que se adapta al visor del headset y una técnica conocida como radar de apertura sintética (SAR) para localizar los objetos ocultos.
El X-AR podría ser útil para trabajadores de almacenes de comercio electrónico y fábricas para ayudar a los técnicos a localizar las piezas correctas para ensamblar un producto. En pruebas, el X-AR pudo localizar objetos ocultos con un margen de error de menos de 10 centímetros en promedio y verificar que el usuario había recogido el objeto correcto con un 96% de precisión.
Los investigadores del MIT planean explorar cómo diferentes modalidades de detección podrían mejorar las capacidades del X-AR y ampliar su alcance para hacer que el sistema sea compatible con varios headsets.
El X-AR podría revolucionar la forma en que los trabajadores de almacenes y fábricas localizan objetos, llevando la realidad aumentada a otro nivel.